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Looking for EDAX? You're in the right place - welcome to Gatan.com

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EDAX’s industry-leading solutions for elemental analysis are now part of the Gatan experience—bringing together advanced tools for electron microscopy, spectroscopy, and sample preparation under one roof.

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The future of EELS!

Built for scientists pushing the boundaries of discovery, the F1-GIF™ System delivers complete chemical and structural insight in a single electron energy loss spectroscopy (EELS) platform, accelerating breakthrough research and inspiring a new era of materials science without compromise.

解锁温度驱动的视角

专为严苛的低温实验流程设计，全新双倾液氮冷冻样品杆 (型号 1697) 可实现更长时长、更可靠的原位实验。

Explore In Situ Holders

New PECS III is here!

Introducing the PECS III System – Using a single and integrated workflow to prepare high-quality and stable surfaces in semiconductors, batteries, and advanced materials.

PECS III System

In-situ

未知总是超于所见

因此，Gatan 在过去的60 年中与客户倾力合作，不断扩展电子显微技术可以达到的研究极限。我们共同开发了新的问题解决方案，并提出了对诸多领域的全新见解。

了解最新应用结果

解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家引领的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。

揭示电镜深度见解

Electron ptychography for atomic-scale defect analysis in two-dimensional materials

应用说明

电子叠层衍射成像用于二维材料原子级缺陷分析

April 1, 2026

Real-space mapping of deuterated polymers using dark-field EELS

应用说明

Real-space mapping of deuterated polymers using dark-field EELS

March 1, 2026

EDS analysis of Au-WS2 core–shell nanoparticles

应用说明

Au-WS2 核壳结构纳米颗粒的EDS分析

January 30, 2026

Atomic resolution imaging of hexagonal water ice

应用说明

六方冰的原子分辨成像

January 1, 2026

Characterizing silicon carbide polymorphs with EBSD using spherical indexing

应用说明

使用EBSD的球形标定表征碳化硅多晶型

December 11, 2025

揭示电镜深度见解

驱动科研创新

探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。

软件

下载、更新以及面向具体应用的资源

教育和培训

通过自主进度的在线课程以及线下课程获取实用经验

Insight 通讯

探索前沿见解、专业观点与实战应用

元素周期表

借助交互式元素周期表，实现更智能的显微分析。

博客

发现电子显微领域的前沿洞察、专家观点和实用应用

常见问题 (FAQs)

电镜常见问题快速解答

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