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Stylized diffraction pattern visualization with central beam and scattered intensity spots used for microscopy technology banner

技术

 4D STEM analysis and mapping capability

4D STEM

4D STEM 指的是在 STEM 面扫的每个扫描点位置上,都采集一张完整的二维衍射花样。

 

Cathodoluminescence (CL)

阴极发光 (CL) 

在纳米尺度上检视材料化学、光学和电子性质的独特视角

EELS.info

冷冻电子显微术 

在样品的天然环境中在低温状态下观察生物样品。

Electron backscatter diffraction (EBSD)

EBSD

电子背散射衍射 (EBSD) 帮助您检验材料的晶体取向或结构。

Energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS/EDX)

EDS/EDX

x 射线能谱法 (EDS/EDX) 帮助您了解样品的元素或化学特征。

Electron energy loss spectroscopy (EELS)

EELS 和 EFTEM 

用于材料分析的电子能量损失谱(EELS)和能量过滤透射电子显微术(EFTEM)
 

eaSI Spectrum Imaging

eaSI 谱成像 

为您的高级谱成像实验带来高效和有效的工作流程。

Imaging

数字成像 

屡获殊荣的高分辨率成像工具帮助您了解生物和无机样品的超微结构。

In-situ

原位 

实时观察生长过程、化学反应和氧化、辐射效应、机械、磁性和铁电性能。

Integrated SEM

集成的SEM技术

集成技术将多种分析方法整合到统一系统中,实现全面的材料表征

MicroED/3DED

MicroED/3DED

样品在 TEM 中连续旋转时采集小晶体的电子衍射花样

Micro x-ray fluorescence (micro-XRF)

微束-XRF 

微束-XRF 提供高分辨率、无损的元素分析,适用于各种材料——非常适合分层、敏感或不规则的样品。

Wavelength dispersive x-ray spectroscopy (WDS)

WDS

Wavelength dispersive x-ray spectroscopy (WDS) for precise elemental identification and quantification

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