应用说明
测量深紫外波长下的阴极荧光
March 1, 2025
发光材料和器件
揭示发光材料中微观结构、缺陷和光学特性之间的相互作用，以帮助实现卓越的亮度、色彩准确性和器件可靠性。
推动光电子学领域的创新
发光材料和器件是LED、OLED和先进显示系统等技术的核心。了解它们的组成、界面以及纳米尺度的退化机制对于提高效率、色彩质量和使用寿命至关重要。Gatan提供尖端的电子显微镜解决方案，以无与伦比的精度揭示这些细节。
为什么电子显微术对发光材料很重要
设备性能取决于半导体层、掺杂分布和界面结构之间的复杂相互作用。我们的解决方案帮助您：
- 可视化半导体层中的显微结构和物相分布。
- 分析元素组成和掺杂分布以优化性能。
- 检测影响效率和可靠性的缺陷和退化机制。
- 将光学性质与纳米级形貌相关联以实现预测性设计。
加速您研究的技术
先进的显微技术和分析技术能够精确表征发光材料和器件结构，揭示关键的结构-性能关系，从而提高效率、色彩质量和长期可靠性。
阴极荧光（CL）
通过揭示晶体缺陷、电子结构和微量元素化学，为材料提供独特的纳米级光学洞察
电子背散射衍射（EBSD）
通过映射晶体取向、相位和晶界，进行详细的显微结构分析
电子能量损失谱（EELS）
提供原子尺度的元素组成和化学键合洞察——助力更深入地理解材料特性
能量色散x射线谱（EDS/EDX）
通过检测样品发射的特征x射线，快速可靠地进行元素分析，使研究人员能够识别和定量元素
eaSI 谱成像
集成 EELS、EDS、4D STEM 等技术，提供丰富的相关洞察，推进对复杂动态纳米级现象的理解
成像
提供对生物和无机样品的高分辨率可视化，支持研究超微结构、材料生长和失效机制
原位
捕捉受控刺激下的实时纳米尺度动态，以揭示基本机制并加速科学发现
集成 SEM
将 EDS、EBSD、CL、BSE 和 WDS 集成到统一平台中——为复杂材料提供全面的高分辨率洞察
波长色散x射线谱学（WDS）
提供高光谱分辨率和灵敏度，可精确识别和定量复杂样品中的痕量和轻元素
实现推动创新的成果
通过Gatan释放电子显微镜的力量——探索尖端应用并通过详细的应用说明发现推动科学突破的洞察。
应用说明
将阴极荧光探测扩展至红外波长
October 1, 2024
应用说明
Determining photonic band structure by energy-momentum spectroscopy in an electron microscope
August 1, 2024
应用说明
Electric field-induced structural dynamics in MoS2 observed using in-situ transmission electron microscopy
August 1, 2024
应用说明
Investigating the optical properties of nanophotonic materials far below the diffraction limit
July 1, 2024
媒体库
沉浸在科学发现的世界中——探索揭示未知的显微镜图像，以及展示 Gatan 技术实际应用的网络研讨会和教程。