网络研讨会
High-resolution EELS on high entropy perovskite oxide thin films
April 30, 2026
成分分析
以亚纳米分辨率绘制元素的存在、数量和位置，以阐明结构-性能关系并推动材料创新。
通过成分清晰度推动突破
了解材料组成对于预测性能、可靠性和功能至关重要。从合金到复杂复合材料，精准的元素和物相分析使得设计和优化更加明智。Gatan 提供尖端的电子显微镜解决方案，以无与伦比的精度揭示纳米尺度的组成细节。
为什么电子显微术对成分分析很重要
材料性能取决于元素组成、物相分布和显微结构界面之间的复杂相互作用。我们的解决方案帮助您：
- 识别异质材料中的元素面分布和物相组成。
- 检测影响机械或化学性能的杂质和夹杂物。
- 将成分数据与显微结构特征相关联，以进行预测建模。
- 执行原位分析，以监测加工或操作期间的成分变化。
加速您研究的技术
先进的显微术和分析技术能够精确表征材料组成和物相分布，揭示决定性能和可靠性的关键结构-性能关系。
电子能量损失谱（EELS）
提供原子尺度的元素组成和化学键合洞察——助力深入理解材料特性
能量色散x射线谱（EDS/EDX）
通过检测样品发射的特征x射线，快速可靠地进行元素分析，帮助研究人员识别和定量元素
eaSI 谱成像
集成 EELS、EDS、4D STEM 等技术，提供丰富的相关洞察，推进对复杂动态纳米级现象的理解
成像
提供对生物和无机样品的高分辨率可视化，能够研究超微结构、材料生长和失效机制
原位
在受控刺激下捕捉实时纳米级动态，以揭示基本机制并加速科学发现
集成 SEM
将 EDS、EBSD、CL、BSE 和 WDS 集成到统一平台中——为复杂材料提供全面的高分辨率洞察
波长色散x射线谱学（WDS）
提供高光谱分辨率和灵敏度，可精确识别和定量复杂样品中的痕量和轻元素
实现推动创新的成果
通过 Gatan 解锁电子显微镜的力量——探索尖端应用，并通过详细的应用说明发现推动科学突破的洞察。
应用说明
EDAX OIM Analysis 9.1 – 一键分析
April 4, 2025
应用说明
使用剂量分割模式，多帧采集原位谱成像数据
August 1, 2024
应用说明
样品表面和厚度对 EDS 面分布图的影响
July 1, 2024
应用说明
使用 APEX 软件快速完成夹杂物和痕量元素的搜索
May 8, 2024
媒体库
沉浸在科学发现的世界中——探索揭示未知的显微镜图像，以及展示 Gatan 技术实际应用的网络研讨会和教程。
页眉图像致谢：样品由比利时IMEC的Paola Favia博士提供。