软件中的新功能
探索 DigitalMicrograph、APEX 和 OIM Analysis 的最新创新
版本 3.62
DigitalMicrograph
体验 DigitalMicrograph 3.62 的强大功能——突破性的四维扫描透射电子显微术（4D STEM）取向面分布、自定义扫描模式以及实时电子能量损失谱（EELS）成像，彻底改变您的原位和谱成像工作流程。
版本 3.1
APEX
通过 APEX 解锁显微工作流程中的精确性和效率——其功能包括增强的相机控制、实时漂移校正以及集成的实验模板，实现无缝数据采集。
版本 9.1
OIM Analysis
OIM Analysis 9 通过更快的性能、直观的模板和先进的球形标定重新定义了 EBSD 数据处理——即使是最复杂的显微结构，也能为您提供更清晰的洞察和更简化的工作流程。
DigitalMicrograph 图像致谢：Ni 纳米薄片样品由 Felipe Quiroga-Suavita（LPCNO - INSA Toulouse 和 SMS - UNSW Sydney，EU MSCA-AUFRANDE）制作。
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