F1-GIF 系统

材料领域的挑战日益复杂，研究人员不再能够在探测范围、分辨率、电子剂量与实验流程效率之间做出取舍妥协。F1-GIF™ 系统专为不断突破探索边界的科学家打造，从一个电子能量损失谱（EELS）平台出发，带来全面的化学成分与微观结构洞察，助力前沿研究高效取得突破，开创无性能短板的全新材料科学研究时代。

• 兼具探测范围与分辨率，无需取舍 – 单谱采集即可同时得到宽广能量范围与精细谱学细节，不必在广度和精度之间做选择。
• 洞悉完整的元素图景 – 清晰地分辨能损边细节，在复杂多元素材料中准确地进行化学键合态分析。
• 不同加速电压之间无缝操作 – 单个大面阵直接探测器覆盖 30 – 300 kV 高低压全区间的分析。
• 更快获得答案，更少样品损伤 – 使用直接探测和剂量分割技术收集高速帧，累加信号，校正漂移，并保护敏感样品。
• 统一的多维度分析 – EELS 与 4D STEM 关联构成 5D STEM 工作流程，联结成分、化学态、结构、取向、应变和局部电势等信息。

*采用 DECTRIS 混合像素技术

产品说明书