电子叠层衍射成像用于二维材料原子级缺陷分析

使用的 Gatan 设备

Stela^®* 混合像素相机，STEMx^® 系统，eaSI™ 技术，以及 DigitalMicrograph^® 软件

背景

电子叠层衍射成像已发展成为电子显微学中一项变革性技术，能够实现亚埃级分辨率。该技术依托相干电子束与先进像素探测器，可从衍射花样中重构相位信息，从而深入解析原子尺度结构。这一技术优势对于二维材料研究尤为重要：二维材料中的单原子缺陷会极大影响材料的电学、光学及催化特性。借助该技术直接表征这类缺陷，可为新一代半导体与量子器件的研发提供有力支撑。

**采用 DECTRIS 技术