应用说明
电子叠层衍射成像用于二维材料原子级缺陷分析
April 1, 2026
DigitalMicrograph 软件
DigitalMicrograph，或称为 Gatan Microscopy Suite，驱动您的电子相机和其他附件以支持一系列重要应用，包括断层扫描、原位、谱学和衍射成像等。
优点
DigitalMicrograph® 是用于（扫描）透射电子显微镜 ((S)TEM) 实验控制和分析的行业标准软件，通常也被称为 Gatan Microscopy Suite® (GMS)。 DigitalMicrograph 3进行了全新改造，使用新的、更简化的用户界面。 DigitalMicrograph 3使新手用户能够轻松地执行基础研究应用，同时它继续为经验丰富的显微镜专家提供他们所习惯和需要的复杂控制与功能。
新近亮点：
- 电子能量损失谱 (EELS)
- 使用 GIF Continuum® 系统在全电压下采集 CountedEELS
- 衍射成像
- 扩展4D STEM数据分析以包括差分相位衬度 (DPC)
- 使用 Latitude® D 软件简化微晶电子衍射 (MicroED) 的数据采集
- 原位成像
- 支持新的原位数据类型，包括 EELS 和 STEM
- 自动同步多个数据集、样品杆参数和处理数
- 阴极荧光
- 为能量-动量谱学研究添加波长和角度分辨的阴极发光表征
以技术为中心的工作流程
指导您完成实验设置、执行和分析
选项卡式工作区和数据布局管理器
提供一种用户友好的方式来组织和管理数据
实时数据的专用视图
将新获取的数据与之前的实验清楚地分开
DigitalMicrograph 和 Python 脚本
为专家用户提供不妥协的完全控制
产品说明书
应用
借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。
应用说明
人体视网膜神经节细胞线粒体的低温冷冻 EELS 元素面分布
August 1, 2025
应用说明
使用 GIF Continuum 内标分析快速获得元素种类和价态面分布
August 1, 2024
应用说明
使用 EELS 揭示嫦娥 5 号月壤样品中的 Fe3+ 成分
July 1, 2024
应用说明
使用 Elite T Super 在 DigitalMicrograph 中进行实时 EDS 面分布分析
July 1, 2023
媒体库
沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。
资源
探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。
软件
下载、更新以及面向具体应用的资源
博客
发现电子显微领域的前沿洞察、专家观点和实用应用
计算机配置推荐
查看系统要求和硬件指南，以实现最佳的软件性能
EELS.info
探索电子能量损失谱（EELS）全套技术体系，这里有分步实验指南，也包含可下载谱图的交互式图谱库。
EM 学院
通过自主进度课程获取实用经验，助力提升您的电子显微镜研究水平
常见问题（FAQs）
查阅全面的常见问题解答，快速获取电子显微技术相关答疑
培训
探索线下与线上电子显微课程，通过现场上机培训与灵活互动的学习方式深化您的专业能力
什么是 CL？
提升您的阴极发光（CL）之旅——从实验指南到更深入的应用见解
Log4j and Log4Shell Vulnerability
Gatan’s DigitalMicrograph application and Gatan Microscopy Suite (GMS) software suite, including all the plug-ins and modules developed by Gatan, do not use the Log4j framework and is therefore not exposed to the Log4Shell vulnerability.
DigitalMicrograph makes only very limited use of third-party software modules and only uses one that actually installs a Java Virtual Machine, which is necessary to run Log4j. This 3rd party module is developed by National Instruments. Gatan uses a National Instruments card to integrate the JEOL EDS detector, and NI’s statement is available here. National Instruments has indicated that the product we use is not affected.
