网络研讨会
High-resolution EELS on high entropy perovskite oxide thin films
April 30, 2026
GIF Continuum 以及 Continuum S
型号 1065, 1066, 1069, 1069HR, 1077
新一代先进EELS及EFTEM系统。
优点
GIF Continuum® 系列产品是Gatan的全新一代电子能量损失谱（EELS）和能量过滤透射电子显微术（EFTEM）系统。Continuum系列产品在不牺牲系统强大功能与灵活性的同时，简化了能量损失系统的操作流程，将生产率与数据通量提升到新的高度。基于专有的全新的探测器系统而设计制造，Continuum为EELS和EFTEM应用提供了出色的探测速度与数据质量。
>10x 更高生产率
- >8000 谱每秒下 >95% 占空比
- >10x 更快系统调校
- 简洁的、基于工作流程的用户界面
革命性的数据质量
- 低噪声、高动态范围 CMOS 探测器
- 得益于全新 XCR™ 传感器堆叠技术，更好的 MTF 与 DQE 表现
- 各种采集模式下的全增益校正
- 特有的动态聚焦控制
- 可选配 K3® 电子计数直接探测器，获取更高质量的EELS与EFTEM数据
新兴应用领域
- 能量过滤 4D STEM*
- 原位 EELS 与 EFTEM*
- 动量分辨 EELS*
*需要配备可选组件
产品说明书
应用
借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。
应用说明
Real-space mapping of deuterated polymers using dark-field EELS
March 1, 2026
应用说明
利用剂量分割谱成像侦测微弱的芯损失信号
October 1, 2024
应用说明
使用 GIF Continuum 内标分析快速获得元素种类和价态面分布
August 1, 2024
应用说明
使用 EELS 揭示嫦娥 5 号月壤样品中的 Fe3+ 成分
July 1, 2024
媒体库
沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。
Energy filtering improves SNR for diffraction studies
资源
探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。
EELS.info
探索电子能量损失谱（EELS）全套技术体系，这里有分步实验指南，也包含可下载谱图的交互式图谱库。
博客
发现电子显微领域的前沿洞察、专家观点和实用应用
EM 学院
通过自主进度课程获取实用经验，助力提升您的电子显微镜研究水平
常见问题（FAQs）
查阅全面的常见问题解答，快速获取电子显微技术相关答疑
维保方案
提供预防性维护、产品升级、运行调试与维修服务，保障 Gatan 设备始终保持最佳运行状态
软件
下载、更新以及面向具体应用的资源
培训
探索线下与线上电子显微课程，通过现场上机培训与灵活互动的学习方式深化您的专业能力
