使用 GIF Continuum 内标分析快速获得元素种类和价态面分布
使用的 Gatan 设备
背景
通过揭示样品内部的化学信息，分析电子显微学对很多研究领域都具有重大价值。透射电子显微学 (TEM) 中两种最流行的分析技术是能量色散 X 射线谱 (EDS) 和电子能量损失谱 (EELS)。除了在元素 mapping 时前向散射电子相对于 X 射线具有更高的收集效率外，EELS 相对于 EDS 的另一个独特优势是化学状态分析。对能量损失近边精细结构 (ELNES) 的详细分析可以揭示 EDS 谱无法提供的特定元素信息，比如价态。在腐蚀科学中，分析价态对于了解氧化还原反应过程中形成的相至关重要。此外，每个相的分布为腐蚀行为的动力学提供了线索，从而引发了对金属材料基本腐蚀机理的讨论。