通过原位4D STEM监测随机取向的结晶过程

使用到的Gatan设备

搭载Stela^®的GIF Continuum^® K3^®可采集高保真能量过滤衍射和电子能量损失谱。Stela混合像素相机采用DECTRIS技术，可在高帧率 (>16,000 fps) 下实现高信噪比 (通过电子计数) 和高动态范围衍射成像。STEMx^®系统利用eaSI™技术, 通过硬件将扫描探针与探测器帧率同步, 从而在DigitalMicrograph^®软件中实现高通量四维扫描透射电子显微术 (4D STEM) 数据采集和处理。

背景

纳米颗粒在载体上结晶后的取向对它们在催化、电子学和传感器中的性质和表现至关重要。虽然完全单分散纳米颗粒的性质可以从单个颗粒中进行预测或计算颗粒们的平均值，但实际系统通常没那么简单。基于此，对许多单分散颗粒的特定取向随时间的变化进行记录就很有价值了，毕竟每个颗粒的独特环境阻碍了颗粒之间的直接简单比较。然而，单个颗粒的重复结晶过程确实允许我们在多个结晶和熔化循环中直接比较其取向变化。重复观察多个颗粒可以提供更好的统计性数据，并深入了解哪些颗粒表现出特征的典型行为。