OnPoint BSE 探测器

型号 400, 401

一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。

优点

OnPoint^®探测器是背散射电子 (BSE) 检测的标准，它提供了优良的灵敏度和速度，以更好地分析轻质金属、聚合物、塑料和生物材料。该系统使用针对低 kV 优化的探测器，扩展了您研究低原子序数 (Z) 元素、无涂层生物样品和采集大型 3D 数据集的能力。

Resolves features distorted by charging or beam damage

解析因荷电现象或电子束损伤而变形的材料特征

在低kV采集图像，以减少电荷积聚防止脆弱样品损伤

快速采集大型3D数据集

用最多比以往快6倍的速度获取大视场图像或3D数据集

区分低原子序数的元素

实现较高的信噪比 (SNR)，可用来帮助区分原子序数相近的元素

Provides highest BSE collection efficiency

提供较高的BSE采集效率

输出具有更高信噪比的图像，因为OnPoint 探测器捕捉到了其它探测

实现更加准确的定量

通过生成具有更宽动态范围的图像，以便更准确的测定合金和化合物的元素组成

产品说明书

OnPoint BSE 探测器

应用

借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。

揭示电镜深度见解

Identifying titanium hydride in a titanium alloy using EBSD and quantitative backscatter imaging

应用说明

使用EBSD和定量背散射成像识别钛合金中的氢化钛

May 1, 2025

Line graph displaying electron backscatter coefficient curves for element identification inside a scanning electron microscope

应用说明

扫描电子显微镜（SEM）中的定量背散射电子分析

July 1, 2024

Revealing the lithium content in aerospace alloys"

应用说明

解析航空航天合金中的锂含量

July 1, 2024

应用说明

扫描电镜中锂元素的定量面分布

July 1, 2024

Lithium quantification using the composition-by-difference method

应用说明

使用成分差异法对锂元素进行定量表征

July 1, 2024

揭示电镜深度见解

媒体库

沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。

发现细节

OnPoint detector minimizes charging and beam damage

Image shows that the OnPoint BSE detector can resolve features at 1.1 kV (right) that were previously distorted (e.g., black spots) by charging or beam damage at 2.2 kV (left). Sample: Mouse cerebellum. Image courtesy of T. Deerinck NCMIR/UCSD.

OnPoint increases 3View imaging speed four-fold

Preserves synaptic vesicle under low kV conditions

Demonstrates how low kV conditions can preserve and discriminate fine features, such as synaptic vesicles. Sample: 2 kV, 0.2 nm pixels, 24k x 24k image, 1 µs dwell time. Image courtesy of T. Deerinck NCMIR/UCSD.

$Secondary electron image and elemental metal fraction maps (by wt. %) of the same region of the MgLiAl alloy; white pixels are regions excluded from the analysis due to influence of topography.$

Secondary electron image and elemental metal fraction maps (by wt. %) of the same region of the MgLiAl alloy; white pixels are regions excluded from the analysis due to influence of topography.

发现细节