EDAX Orbis II 微束X射线荧光系统

型号 1140

提供非破坏性、高性能的元素分析，同时兼具卓越的灵活性与易用性。

优点

EDAX^® Orbis™ II 微束 X 射线荧光（微束 XRF）系统带来非破坏性、高性能元素分析，同时兼具极高的灵活性和易用性。Orbis II 专为涵盖各种微束 XRF 分析应用的全方位卓越表现而设计，使用户能够快速准确地全面分析从最小颗粒到大尺寸、复杂的样品。体验 EDAX Orbis II 带来的全新境界微束 XRF 分析——在这里，精度与性能完美结合！

Custom x-ray window technology enables the detection of light elements

定制的 X 射线窗口技术能检测轻元素

专有的同轴光和 X 射线光路精确定位特定区域 - 消除来自邻近区域的 X 射线干扰

Maximizes throughput by collecting spectra 2.5x faster and spectral maps >3x faster

以 2.5 倍的更快速度采集光谱，以超过 3 倍的更快速度获取光谱面分布，来实现更大的分析通量

Streamlines workflows with programmable autorun routines to boost productivity and ensure consistent, high-quality results

通过可编程的自动运行程序简化工作流程，以提高生产力并确保一致的高质量结果

产品说明书

EDAX Orbis II 微束X射线荧光系统

应用

借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。

揭示电镜深度见解

How to correlate micro-XRF and SEM-EDS for optimal x-ray characterization of materials

应用说明

获得更好的材料X射线表征：如何将Micro-XRF和SEM-EDS数据相关联

September 29, 2023

Non-destructive authentication of gemstones using micro-XRF

应用说明

使用微束-XRF对宝石进行无损鉴定

November 10, 2021

应用说明

使用 EDAX Orbis II 微束 X 射线荧光系统进行法医玻璃精密分析

August 20, 2020

揭示电镜深度见解

媒体库

沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。

发现细节

The Orbis II leverages a patented orbital turret to seamlessly align the x-ray optical axis with the high-magnification view of your sample.

This 15 mm x 15 mm floor tile was scanned using a 50 kV tube voltage and 1,000 μA tube current. A 30 μm polycapillary optic enabled high resolution mapping at a 15 μm step size and 200 ms pixel time.

A graph showing the transmissions curves for the two different window options for the EDAX Orbis II. The beryllium window (red) shows higher transmission at higher x-ray energies, while the silicon nitride window (green) performs better at lower x-ray energies.

发现细节