WDS

波长色散X射线谱（WDS），用于精确识别和定量元素。

Wavelength dispersive x-ray spectroscopy (WDS)

概述

波长色散X射线谱（WDS）是一种了不起的分析技术，它通过研究样品发出的特征X射线来揭示其元素组成。作为能量色散X射线谱（EDS/EDX）的强力助手，WDS 提供了更高的分辨率和灵敏度，让我们能够精确地识别和量化各种材料中的元素。

什么是WDS？

当电子束与样品相互作用时，会产生材料中元素特有的X射线，从而提供关于材料组成的重要信息。EDS和WDS都可以分析这些特征X射线，不过EDS是根据能量来分离X射线的，而WDS是根据波长来分离的。WDS的分辨率更高，准确性也比EDS好，而EDS通常更快，对低能X射线更敏感。

一个与扫描电子显微镜（SEM）集成的WDS系统能系统地采集和分析发射的X射线的能量和强度，从而能够精确地识别和量化元素。

WDS 分析系统的主要组件包括电子源（来自 SEM）、X 射线采集光学系统、衍射器（晶体）和 X 射线探测器。衍射晶体根据布拉格定律通过波长分散 X 射线，这条定律指出特定波长的 X 射线会以特定角度折射。衍射器的旋转角度设定为将特定波长的 X 射线（比如感兴趣元素的特征 X 射线）引导到 X 射线探测器，探测器测量所选 X 射线的强度（流量）。

Figure 1. WDS resolves EDS peak overlaps, addressing problems that cannot be solved with EDS alone.

WDS的优势

WDS 提高了谱峰分辨率和信噪比，使其非常适合材料分析，尤其是在处理具有重叠 X 谱线或痕量元素的复杂样品时。快来了解它检测轻元素的能力，如何为各种应用带来重大变化。

性能	优点
识别复杂样品中的成分	比其他X射线分析技术（例如EDS）提供更好的谱分辨率，非常适合分析具有重叠X射线的复杂样品（见图1）
可研究痕量元素	最低检测限相比 EDS（约 0.01 wt.%），提高了超过 10 倍，增强了对微量元素的检测和定量能力
研究传统上难分析的轻元素	独特的低强度峰值测量能力使得检测轻元素成为可能，包括铍、硼、碳、氮和氧这些元素
准确定量元素	高度准确和精细的定量分析使它能够更容易地区分元素，从而得到更可靠、更有影响力的结果