利用低电压电子高速衍射解决实际材料问题

本次网络研讨会将展示使用Stela^®——基于 DECTRIS 的高速混合像素技术的高动态范围电子探测器，来进行低电压、高速电子衍射实验的应用案例，以研究影响材料特性的细微结构变化和损伤机制。