高级数据处理——选择、验证和定量

电子背散射衍射（EBSD）是一种材料科学研究的标准工具。它已经成为漂亮图像，比如图像质量图、反极图、粒径分布图和其它许多类型的能在OIM Analysis™软件中轻易创建的分布图和图表的代名词并包含丰富的信息。这种可视化对于获得样品的概况非常有用。然而，许多时候全域分析可能仍然包含来自不同微观结构部分的本应该被分离开的但是却被平均后的特性。比如，在对部分重结晶的材料的分析中，形变的和重结晶部分的取向分布会被合并。这会妨碍对微观结构演变的分析。OIM Analysis具有强大的例程来生成一个完整数据库的子集或分区以便对一个数据库的自定义选择部分进行详尽分析。另一个关注点是取向测量的可靠性。EDAX的标定算法主动的验证多种取向的可能性并提示数据点是否模棱两可以及是否需要被修正或者移除。除了可视化和分析能力以外，所有的从原始取向数据到邻近晶粒的数量到织构因子的信息都能被访问并导出以便进行进一步处理。在最新的OIM Analysis中，分析功能被进一步扩展以包括全花样分析、带词典标定的动态花样模拟和母相晶粒重建。在这次网络研讨会中，我们将介绍OIM Analysis软件的功能和工作流程。