在原子分辨 STEM-EELS 谱成像过程中监测和减轻样品损伤的策略

使用的 Gatan 设备

GIF Continuum^® ER with Stela^®*, DigiScan™ 3, eaSI™ 谱成像技术

背景

现代的扫描透射电子显微镜 (STEM) 每秒可将超过 107 个电子在样品上聚焦成原子级探针；显然，限制和监测样品损伤始终是人们的一个关注点。低温电子显微镜 (Cryo-EM) 领域采用的一种策略是将电子剂量分解或“分割”成多个子帧，以便监测损伤的影响。这种“剂量分割”技术能够以同样的方式应用于 STEM 电子能量损失谱 (EELS) 数据，以限制和 (或) 追踪各种样品中电子束损伤的影响。