使用传统扫描电子显微镜 (SEM) 的光谱时间分辨阴极荧光

使用的 Gatan 设备

Monarc^® Pro 系统提供完整的阴极发光 (CL) 发射分析，使所有用户，无论是新手还是专家，都能采集更高质量的数据。

背景

半导体材料、荧光粉和地质样品发光的时间演变可以揭示发光机理的重要性质。可以测量发光衰减常数 τ ，其通常随发射波长变化。τ 的测定可以揭示与应力和应变、迁移率和扩散长度相关的复合动力学。在电子显微镜中，由于需要具有超快开/关切换的脉冲电子束，因此对 τ 的研究在实验上具有挑战性；可能的解决方案包括超快电子束遮挡和光发射诱导电子脉冲。然而，这些方案适用于非常有限的专用显微镜。