DigitalMicrograph 中金纳米晶薄膜的取向分布图

使用的 Gatan 仪器

ClearView^® 相机能够以高达每秒 1,600 帧的速度采集 4D STEM 数据, 这是闪烁体相机的最快速度之一。STEMx^® OIM 为使用 Gatan 相机收集的4D STEM数据带来了衍射标定和取向解析的功能。eaSI™ 技术将取向分布图数据组合、同步并链接到相关的谱成像数据集。

背景

了解材料的晶粒尺寸、结构和缺陷密度对于研究其材料强度和其他特性非常重要。晶粒结构的取向分析通常在扫描电子显微镜（SEM）中使用电子背散射衍射 (EBSD) 技术进行。然而, 扫描透射电子显微镜 (STEM) 的高分辨率功能对于分析纳米晶材料更加有用。在这种情况下, 使用 STEMx OIM 进行 4D STEM 分析并随后得到取向分布图似乎是更好的方法。