通过低剂量连续成像监测和量化电子束损伤

使用 Gatan 设备

Metro^® 相机采用简单的用户界面，通过实时电子计数实现低电压下的低剂量成像和衍射。

背景

沸石和金属有机框架 (MOFs) 是容易被电子束损坏的纳米结构材料，故而难以通过透射电子显微镜 (TEM) 成像表征它们。随着能够对电子逐个计数的灵敏直接检测相机的出现，样品上的剂量率可以保持在足够低的水平，以便以最小的损伤对这些材料进行长时间成像。这为表征单个纳米结构内缺陷、支撑金属以及其他结构特征的分布创造了机会。