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分析样品杆

型号 643, 646, 650, 925 
专为室温下的 EDS 分析工作而优化
Analytical Holders
   

优点

TEM 分析样品杆适用于基本的成像和分析应用,例如对 TEM 样品的电子衍射和 X 射线能谱法 (EDS) 分析。

 

A beryllium specimen cradle minimizes unwanted x-ray signals

样品压片为铍金属,可尽量减少不必要的 杂散X 射线信号

Cut-outs in the specimen tip are matched to the TEM configuration and provide a clear path between the sample and detector to reduce shadowing for EDS analysis

样品杆头部的几何形状与 TEM 极靴配置相符,以减少 EDS 信号的遮挡

To facilitate quantitative x-ray analysis, non-rotating holder versions are equipped with a small Faraday cup located near the specimen cradle at the tip of the holder

为了便于 X 射线定量分析,非旋转的样品杆配有一个小法拉第杯,位于样品杆尖头处

Electrical connections are available for the non-rotating versions of the holder

不可旋转的样品杆可以安装电极

 

型号铍支架样品定位样品固定电动控制法拉第杯最大引电极数(选配)
643标准α 倾斜Hexring® 机制 标准6
646标准α、β 倾斜Hexring 机制β 倾斜标准4 – 61
650标准α 倾斜和旋转Hexring 机制旋转0
925标准α、β 倾斜和旋转1Hexring 机制 0

1 JEOL UHR 需要 2–6 个,所有其他 EMM 需要 2–4 个

 

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