高级 STEM 探测器
型号 806, 807
针对电子能量损失谱 (EELS) 的采集优化了的 STEM 高角度环形暗场 (HAADF)、环形暗场 (ADF) 以及明场和暗场 (BF/DF) 探测器。
优点
对于 EELS SI 数据的采集和利用扫描透射模式 (STEM)的面分布分析，适当控制探测器接受角度对数据的收集效率及其解释至关重要。高级 STEM 探测器经过优化，与 EELS 系统完美配合，可在整个角度范围对散射电子无缝收集，从而增进对每个样品的化学和成分信息的了解。
增强灵敏度
简化探测器操作
与 Gatan 相机和光谱仪无缝集成
应用
借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。
媒体库
沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。
Image of interplanetary dust particle; STEM tilt series acquired with a 806 HAADF detector from -61˚ to 68˚; aligned, reconstructed and visualized using 3D reconstruction and 3D visualization software; the iso-surfaces highlight two different intensity levels in the reconstruction. Data courtesy of Dr. Ilke Arslan of Sandia National Laboratories, Livermore, California and Dr. John P. Bradley of Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California.
The HAADF signal (left) contrast is easily interpreted in terms of mass thickness of the material while the diffraction contrast MAADF signal (right) reveals highly detailed structural changes in the material. The optimized geometry makes this possible.
a) HAADF image of a GaAs/GaAsP multilayer laminate; b) Integrated diffraction pattern of the superlattice structure along the [011] zone axis; c) Virtual BF image extracted from 4D data cube quantifying strain down to 1.2 nm resolution in full 2D area in eyy; d) exx strain for same area shown. Data courtesy V. B. Ozdol et al., National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory and Department of Materials Science and Engineering, University of California, Berkeley, California.
资源
探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。
维保方案
提供预防性维护、产品升级、运行调试与维修服务，保障 Gatan 设备始终保持最佳运行状态
软件
下载、更新以及面向具体应用的资源
