Murano 原位实验样品台
型号 525
专为原位研究设计的加热样品台
优点
利用原位加热测试样品台可实现动态显微结构观察，并可为材料研究带来新的见解
模块化设计，用于扫描电子显微镜 (SEM)
通过自定义设计，可在 SEM 样品台上快速安装和拆卸，拆除后不影响SEM的正常工作
充分考虑与其它探头（包括EBSD 在内）配合工作的几何关系，可以实现动态观察
Murano 加热样品台
- Murano 样品台用于 EBSD 应用时可加热至 950 °C，用于二次电子探测器 (SED) 成像时可加热至 1250 °C
- 研究最高 950 °C 高温下的实时结晶和相变情况
- 采用专有设计，可实现离线安装和存储样品
- 专有的样品安装方式，可完美配合 EBSD/聚焦离子束 (FIB)/二次电子模式下的
- 水冷却和热防护屏蔽可确保在高温条件下实现高水平的保护
- 采用额外的偏压控制，为高温条件下的成像提供帮助
产品说明书
应用
借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。
媒体库
沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。
Special compact design and heating method allows study of dynamic EBSD phase transformations within tight geometry restrictions of SEM.
EBSD map of bronze specimen recrystallization taken in-situ at 800 °C using Murano heating stage.
资源
探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。
维保方案
提供预防性维护、产品升级、运行调试与维修服务，保障 Gatan 设备始终保持最佳运行状态
