使用滤片对敖德萨陨石做高分辨率面分布图
使用仪器
EDAX® Orbis™ 微束 X-射线荧光元素分析仪
背景资料
陨石是来自外星物体的岩石或金属碎片，它们穿过地球大气层，撞击到地球表面，并留存下来。对这些珍贵陨石样品而言，做 X-射线面分布图是无损检测，并为研究早期太阳系提供了非常有价值的信息。与扫描电子显微镜中的能量色散谱相比，Orbis 微束 X-射线荧光（Micro-XRF）元素分析仪可以容纳这些相对大尺度的不导电样品，同时通过多级毛细管 X-射线光学部件保持高分辨率。
EDAX® Orbis™ 微束 X-射线荧光元素分析仪
陨石是来自外星物体的岩石或金属碎片，它们穿过地球大气层，撞击到地球表面，并留存下来。对这些珍贵陨石样品而言，做 X-射线面分布图是无损检测，并为研究早期太阳系提供了非常有价值的信息。与扫描电子显微镜中的能量色散谱相比，Orbis 微束 X-射线荧光（Micro-XRF）元素分析仪可以容纳这些相对大尺度的不导电样品，同时通过多级毛细管 X-射线光学部件保持高分辨率。