应用说明
Real-space mapping of deuterated polymers using dark-field EELS
March 1, 2026
STEMPack 谱图成像
型号 877, 878
从配备扫描透射模式的电子显微镜（STEM）上采集样品详细分析信号的系统方案。
优点
STEMPack™ 3 系统采用 DigiScan™ 3 的全新一代数字成像采集表现性能，实现高级谱成像（SI）应用。借助于 DigiScan 3的卓越性能和灵活的扫描功能，STEMPack 3 链接了电子能量损失谱（EELS）和电子束扫描，从而实现谱成像数据集的采集。STEMPack 3 系统是 Gatan 所有谱成像应用的核心支撑，为所有模态（例如 EELS、EDS、衍射、CL）带来统一的用户体验。
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为样品性质的调查提供系统性和无偏的采样
在一定剂量下最大化所能获得的样品分析信息
详尽的 EELS 数据适用于精细结构分析得到高级的化学态分布
提供丰富，无偏的数据，适合主成分分析和多元统计分析等强大的技术
允许同时多个信号采集*和独特的对比度模式
* 可能需要选配组件
产品说明书
应用
借由 Gatan 解锁电子显微技术的强大潜力——探索前沿应用，深入参与专家主导的网络研讨会，并通过详尽的应用指南汲取专业洞见，赋能科研创新。
应用说明
High speed EELS composition analysis, in DualEELS mode, of metal alloy ohmic contacts for the fabrication of III-V MOSFET devices
February 8, 2016
应用说明
Fast simultaneous acquisition of low- and core-loss regions in the EELS spectrum from catalyst particles containing the heavy metals Au and Pd using the GIF Quantum system
February 5, 2016
应用说明
Atomic level EELS mapping using high energy edges in DualEELS mode
February 5, 2016
媒体库
沉浸于科学发现的世界——探索揭示微观奥秘的震撼显微图像，同时观看展示 Gatan 技术实际应用的视频与教程。
配置
STEMPack 3 系统，877 型
STEMPack 3 Max 系统，878 型
DigiScan 3 输入扩展，888.U4 型
DigiScan 3 光纤数据链接扩展，888.UFO 型
STEMPack 3 至 STEMx® 系统升级，1020.DS3.2 型
STEMPack 高速 EDS 采集升级，777.U3 型
资源
探索助力电子显微技术发展的工具、数据与深度见解，涵盖应用案例、元素周期表资料、专业博客及行业通讯。
EELS.info
探索电子能量损失谱（EELS）全套技术体系，这里有分步实验指南，也包含可下载谱图的交互式图谱库。
什么是 CL？
提升您的阴极发光（CL）之旅——从实验指南到更深入的应用见解
博客
发现电子显微领域的前沿洞察、专家观点和实用应用
EM 学院
通过自主进度课程获取实用经验，助力提升您的电子显微镜研究水平
常见问题（FAQs）
查阅全面的常见问题解答，快速获取电子显微技术相关答疑
维保方案
提供预防性维护、产品升级、运行调试与维修服务，保障 Gatan 设备始终保持最佳运行状态
软件
下载、更新以及面向具体应用的资源
培训
探索线下与线上电子显微课程，通过现场上机培训与灵活互动的学习方式深化您的专业能力
